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1. 對IR 降消除效果的影響
IR 降是指電流通過電解質（如土壤、水）時產生的電壓降，是極化電位測量中最主要的誤差來源之一。極化探頭的設計初衷之一是通過 “魯金毛細管” 結構等減小 IR 降，但這一效果與工作頻率密切相關：
低頻或直流信號：此時電流在介質中的傳導以 “歐姆傳導” 為主，且傳質過程（離子遷移）相對充分，探頭的魯金結構能有效縮短電流路徑，大幅降低 IR 降。因此，低頻 / 直流下測量的電位更接近金屬表面的真實極化電位（即 “消除 IR 降后的有效保護電位”）。
高頻信號：高頻下，電流傳導不僅包含歐姆傳導，還會受到介質容抗（如土壤中水分、離子的極化延遲）的影響。此時，IR 降可能隨頻率升高而增大，且探頭的結構設計（如鹽橋、電極間距）對高頻 IR 降的抑制能力減弱，導致測量結果中包含更多虛假的 IR 降成分，無法反映金屬真實的極化狀態。
2. 對電極極化狀態捕捉的真實性的影響
極化探頭的工作電極需模擬被測金屬的腐蝕 / 保護狀態，而電極的極化狀態（如陽極極化、陰極極化）與信號頻率的匹配性直接相關：
低頻 / 直流信號：對應 “穩態極化” 場景，此時電極表面的電化學反應（如腐蝕反應、陰極保護中的還原反應）已達到平衡，傳質（如氧、離子的擴散）也處于穩定狀態。測量結果能真實反映金屬在長期腐蝕環境中的實際保護效果（如陰極保護是否達到 “-850mV CSE” 的標準）。
高頻信號：對應 “暫態極化” 場景，高頻信號會導致電極表面的反應來不及達到平衡（如雙電層充電、快速離子遷移），測量的電位更多反映的是 “暫態響應” 而非真實的穩態極化狀態。例如，高頻下可能誤判金屬處于過保護狀態（電位過負），但實際穩態下保護不足。
3. 對雜散電流干擾的敏感性的影響
在工業環境中，雜散電流（如交流輸電、電氣化鐵路泄漏的電流）會干擾極化測量，而工作頻率與雜散電流頻率的匹配度直接影響抗干擾能力：
若雜散電流以工頻（50Hz）或其諧波為主，而探頭工作頻率偏離該范圍（如采用低頻），則探頭對雜散電流的響應較弱，測量結果受干擾小；
若探頭工作頻率與雜散電流頻率接近（如均為 50Hz），則雜散電流會被探頭捕捉并疊加到測量信號中，導致電位值失真（如原本合格的保護電位被誤判為超標）。
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